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型號 | D25NC 0°/30° |
---|---|
測量方式 | 非接觸式偵測,可程控轉(zhuǎn)盤、高速掃瞄5次/測量 |
光學(xué)系統(tǒng) | 0°/30°反射式、雙光束回授 |
分光接收 | 《密封光學(xué)元件》精密光柵分光系統(tǒng),256點矩陣式矽光接收 |
光譜範(fàn)圍 |
400...700nm 解析度<3nm、帶寬10nm |
光度範(fàn)圍 | 0...150% |
再現(xiàn)性 | ?E*≤0.03 (Avg) CIE L*a*b* @標(biāo)準(zhǔn)白板 |
偵測區(qū)域 |
?25.4mm 距離測口3.5"處、免接觸 |
高度偵測 |
物件高度自動補償 可自定測量位置 測量範(fàn)圍65...140mm 解析度1mm |
標(biāo)準(zhǔn)光源 | 全波長發(fā)光二極體(LED) |
連接埠 | USB2.0/3.0 |
電源供應(yīng) | 100-240VAC |
型號 | D25NC 0°/30° |
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測量方式 | 非接觸式偵測,可程控轉(zhuǎn)盤、高速掃瞄5次/測量 |
光學(xué)系統(tǒng) | 0°/30°反射式、雙光束回授 |
分光接收 | 《密封光學(xué)元件》精密光柵分光系統(tǒng),256點矩陣式矽光接收 |
光譜範(fàn)圍 |
400...700nm 解析度<3nm、帶寬10nm |
光度範(fàn)圍 | 0...150% |
再現(xiàn)性 | ?E*≤0.03 (Avg) CIE L*a*b* @標(biāo)準(zhǔn)白板 |
偵測區(qū)域 |
?25.4mm 距離測口3.5"處、免接觸 |
高度偵測 |
物件高度自動補償 可自定測量位置 測量範(fàn)圍65...140mm 解析度1mm |
標(biāo)準(zhǔn)光源 | 全波長發(fā)光二極體(LED) |
連接埠 | USB2.0/3.0 |
電源供應(yīng) | 100-240VAC |